En Centro de Microelectrónica de la Universidad de los Andes (CMUA) lleva mas de 5 años desarrollando microscopios de fuerza atómica de bajo costo con fines educacionales. En esta página mostramos los elementos básicos de un AFM, su estructura mecánica, el funcionamiento del scanner o posicionador fino, el uso de el diapasón de cuarzo como sensor de fuerza y los resultados obtenidos en imágenes de topografía de muestras.
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